TS-900e-5G – GENASYS Semi – Systèmes de test de semiconducteurs

Marvin Test Solutions
TS-900e-5G

Article

Les systèmes de test GENASYS Semi 5G offre des performances éprouvées jusqu’à 44 GHz et des performances de test multi-sites indépendantes et non multiplexées jusqu’à 53 GHz.

Le modèle phare TS-900e-5G combine des mesures RF une interface réceptrice haute performance pour obtenir un débit de test de production inégalé pour les appareils mmWave.

Une nouvelle solution d’interface de station d’accueil (soft et hard) rationalise l’intégration et offre une compatibilité avec les principales stations de sonde pour wafer et pour les semiconducteurs (packaged device handlers).

Son architecture de plate-forme modulaire et ouverte offre une flexibilité exceptionnelle face à l’évolution des besoins de test, simplifiant l’expansion et les mises à jour des ressources de test numériques, analogiques et RF.

En outre, MTS / GENASYS Semi propose une suite complète de tests numériques et paramétriques ainsi que le support d’interface SPI / I2C permettant de contrôler / surveiller fonctionnellement le périphérique testé.

TS900e-5G Plateforme

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