Webinaire : Réinventer le test des dispositifs semi-conducteurs 5G mmWave

Marvin Test Solutions

le 6 mai 2021

Inscriptions clôturées

Découvrez comment la dernière technologie VNA de Keysight a été exploitée par Marvin Test Solutions pour offrir des performances de production éprouvées jusqu’à 44 GHz et au-delà, tout en atteignant le débit le plus rapide du secteur.

Rejoignez-nous et découvrez comment passer à l’étape suivante de la caractérisation et des tests de production de dispositifs à semi-conducteurs mmWave pour « Beamforming » et autres applications 5G.

📹 Inscription : https://bit.ly/3gMDLN7
🗓 6 mai 2021
⏰ 16h00
🏴󠁧󠁢󠁥󠁮󠁧󠁿 Langue : anglais

Dans ce webinaire, vous apprendrez :

  • Comment fournir des tests mmWave dans un environnement d’ingénierie ou de production de semi-conducteurs à moindre coût
  • Les techniques pour obtenir des performances de test de production RF répétables et de haute précision ainsi que des tests paramétriques et fonctionnels
  • Les considérations relatives à la conception du système optimisant la flexibilité, l’extensibilité et le support à long terme.

Partagez cette invitation avec n’importe lequel de vos collègues qui pourraient également être intéressés à en savoir plus sur les tests de dispositifs semi-conducteurs 5G mmWave.

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Communiqué de presse :

Le TS-900e-5G de Marvin Test Solutions a été choisi pour le test de production de dispositifs à ondes millimétriques.

Marvin Test Solutions a annoncé que son système de test de production TS-900e-5G mmWave a été sélectionné par Teledyne e2v HiRel Electronics pour le test de dispositifs RF mmWave.

Faisant partie de la suite GENASYS Semi, qui propose des solutions de test de semi-conducteurs flexibles et configurables, la compacité du TS-900e-5G est la solution de test idéale pour la fabrication de semi-conducteurs, la vérification et l’inspection d’entrée des composants pour les fournisseurs de tests qui ont besoin d’un système de test à ondes millimétriques rentable et configurable.

Offrant des mesures de qualité de laboratoire à des vitesses de production, la série TS-900e-5G est le seul système de test disponible aujourd’hui avec des performances multi-site (parallèles) indépendantes et non multiplexées jusqu’à 53 GHz.  Le routage du signal à 44 GHz vers le dispositif à tester (DUT), qui a fait ses preuves en production, fait de ces systèmes de test la solution idéale pour le test à haut débit des dispositifs 5G mmWave.

“Nous sommes fiers d’avoir été sélectionnés par Teledyne e2v HiRel pour le test de dispositifs RF à ondes millimétriques”, a déclaré le PDG de Marvin Test Solutions. “Leur expertise dans le domaine de la production de dispositifs à semi-conducteurs à haute fiabilité pour des applications durcies telles que le militaire et l’espace signifiait qu’ils avaient besoin d’une solution de test tout aussi fiable.”

“Teledyne e2v progresse dans les domaines passionnants du test de produits RF à haute vitesse pour soutenir la feuille de route de nos clients”, a déclaré le vice-président de l’ingénierie pour Teledyne e2v HiRel. “Nous sommes heureux de choisir le TS-900e-5G de Marvin Test Solutions comme solution de test pour les tests RF mmWave jusqu’à 40 GHz.”

Les solutions GENASYS Semi 5G mmWave offrent une flexibilité et une compatibilité exceptionnelles avec les probers et les handlers leaders du marché, assurant une intégration simplifiée avec les équipements de test de production de semi-conducteurs existants.  Le produit est conçu pour prendre en charge l’insertion manuelle ou l’interface avec un manipulateur automatisé. Les testeurs TS-900e-5G offrent un très faible encombrement, fonctionnent avec une alimentation monophasée, sont refroidis à l’air et offrent 4 à 20 ports VNA indépendants (non multiplexés).

Tous les systèmes de test sont fournis avec les logiciels ATEasy® Test Executive et Development Studio, ainsi que des pilotes d’instruments, des panneaux d’instruments virtuels et des outils logiciels de test ICEasy pour faciliter le développement et la caractérisation des tests de composants.

La série TS-900e-5G fait partie de la suite GENASYS Semi de Marvin Test Solutions, des systèmes de test de semi-conducteurs qui offrent une qualité, une valeur et une flexibilité exceptionnelles pour le test et la caractérisation de composants intégrés et de wafers, lors du prototypage, de la production  ainsi que l’analyse et le test de défaillance automatisés.