Description
Le test in situ ou lit à clous (ICT), est une méthode de test extrêmement robuste qui mesure chaque composant sur une carte électronique pour s’assurer qu’il est correct et en place. Les testeurs in situ sont les plus adaptées pour tester des grands volumes de cartes électroniques. Le test ICT par lit à clous nécessite le développement d’un outillage spécifique pour chaque produit à tester. Cet outillage permet l’accès à chaque équipotentielle de la carte en positionnant une sonde électrique sur chaque point de test prévu à cet effet.
Les coûts initiaux et les temps de développement seront plus élevés que pour les tests à sondes mobiles mais les temps de test seront bien plus courts.
