Système de test PXI semi-conductor avec sous-système numérique de synchronisation par broche
TS-960e

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Système de test PXI semi-conductor avec sous-système numérique de synchronisation par broche

Marvin Test Solutions

Le système de test TSX-960 PXI Semiconductor est une plate-forme de test intégrée qui offre des fonctionnalités et capacités systèmes comparables à celles des systèmes ATE propriétaires. Disponible en tant que système de table ou avec un manipulateur intégré, le TS-960 tire pleinement parti de l’architecture PXI pour constituer une solution de test complète et rentable pour les applications de test de dispositifs, SoC et SiP.

Caractéristiques techniques

Plate-forme intégrée de test de semi-conducteurs basée sur PXI
Le châssis PXI 3U à 20 emplacements offre jusqu’à 512 canaux d’E / S numériques avec capacité de PMU et de synchronisation par broche
Le système prêt à l’emploi offre une solution rentable pour les applications de test numériques et à signaux mixtes
Inclut les outils logiciels de test ICEasy - simplifiant la création de tests et la caractérisation de périphériques
Configuration de table et manipulateur intégré