Testeur à sondes mobiles standard simple face
APT-T400G Series
L’APT-T400G est un testeur in-circuit standard combinant précision de mesure, stabilité et simplicité d’intégration. Adapté du prototype à la production en série, il répond aux exigences des sites de fabrication recherchant fiabilité, cadence et flexibilité.
Système de mesure DC/AC haute précision
Chaque tête de test intègre son propre module de mesure DC et AC. Cette architecture réduit les perturbations liées à la longueur des câbles et améliore la stabilité des mesures, même sur des cartes à forte densité. Le système reste performant pour des valeurs électriques très faibles, tout en conservant une répétabilité adaptée aux environnements industriels.
Cinématique optimisée pour le rendement
La combinaison de servomoteurs éprouvés et du logiciel de contrôle TAKAYA optimise les trajectoires et les vitesses de déplacement des sondes. Le test reste stable aussi bien sur des cartes de grande taille que sur des formats compacts, ce qui contribue à maintenir un débit constant en production.
Environnement logiciel orienté efficacité
Le logiciel système intègre des fonctions d’automatisation du paramétrage, comme le réglage des seuils de référence, le positionnement automatique des sondes en fonction de la hauteur des composants et la correction de coordonnées sur images couleur. L’affichage d’images de défauts facilite également les opérations de réparation.
Architecture 4 + 2 sondes pour une meilleure accessibilité
La configuration associe quatre sondes inclinées et deux sondes verticales, permettant d’atteindre des zones difficiles d’accès, notamment entre composants rapprochés ou sur des connecteurs orientés vers le haut. Cette approche améliore la couverture de test sur des cartes aux designs complexes.
Contrôle précis du contact des sondes
La vitesse de descente est réglable sur dix-neuf niveaux, permettant d’ajuster l’effort de contact selon le type de carte. Pour les supports sensibles, la décélération avant contact limite le marquage. Sur des surfaces brasées avec flux, un contact plus ferme garantit la fiabilité du test.
Test IC-OPEN pour défauts internes
Le système IC-OPEN détecte les défauts d’IC en captant les signaux émis par le composant via une sonde capteur positionnée sur le boîtier. Cette méthode permet d’identifier des broches en l’air ou des billes BGA non soudées, sans contact électrique direct.
Inspection visuelle couleur intégrée
Une caméra couleur numérique associée à un éclairage LED blanc haute intensité capture des images détaillées. Les défauts difficiles à détecter électriquement peuvent ainsi être identifiés visuellement. Les codes-barres et codes 2D sont lus et associés aux résultats de test pour la traçabilité.
Maintien carte sans outillage
Le système de bridage divisé permet de fixer des cartes de formes particulières ou avec composants débordants, sans recours à un outillage spécifique. Cette conception réduit le temps de mise en œuvre et simplifie les changements de production.
Génération automatique des programmes de test
Le logiciel de création de programmes génère automatiquement les tests à partir de données ODB++, de formats CAO et de fichiers de placement. L’interface est conçue pour couvrir différents cas de test et réduire les délais de préparation.
Caractéristiques principales
Modèles
APT-T400G
APT-T400G-A (version en ligne)
Configuration des sondes
Haut : 4 sondes inclinées, 2 sondes verticales ou 2 sondes IC-OPEN
Bas : 3 sondes verticales fixes avec base magnétique
Dimensions et poids
APT-T400G : 1400 × 1500 × 1400 mm – 1350 kg
APT-T400G-A : 1400 × 1500 × 1400 mm – 1400 kg
Cartes testables
Dimensions max. : 540 × 483 mm
Épaisseur max. : 6,35 mm
Conseil Installation Formation Maintenance SUPPORT TÉLÉPHONIQUE